* 一般測(cè)試環(huán)境下；變溫速率可調(diào)節(jié)

inTEST Temptronic 高低溫沖擊測(cè)試機(jī)功能特點(diǎn)：
與友廠對(duì)比，inTEST ThermoStream 獨(dú)有的專利自動(dòng)復(fù)疊式制冷系統(tǒng)(auto cascade refrigeration)保證低溫，內(nèi)置 AC 交流壓縮機(jī)，冷凍機(jī)(Chiller)特殊設(shè)計(jì)，制冷劑不含氟利昂、安全無(wú)毒、不易燃，有效保護(hù)環(huán)境；專利 ESD 防靜電保護(hù)設(shè)計(jì)
旋鈕式控制面板，支持測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)。
過(guò)熱溫度保護(hù)：出廠設(shè)置溫度 +230°C
加熱模式下，冷凍機(jī)可切換成待機(jī)模式，以減少電力消耗
干燥氣流持續(xù)吹掃測(cè)試表面，防止水氣凝結(jié)

ATS-545-M 高低溫測(cè)試機(jī)尺寸和重量:
尺寸: 寬61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm
凈重 236 kg, 毛重 365 kg


與傳統(tǒng)高低溫測(cè)試箱、溫濕度測(cè)試箱對(duì)比，inTEST ThermoStream 高低溫測(cè)試機(jī)主要優(yōu)勢(shì)：
1、變溫速率更快
2、溫控精度：±1℃
3、實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)元件真實(shí)溫度，可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度
4、針對(duì)PCB電路板上眾多元器件中的某一單個(gè)IC(模塊)，可單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件
5、對(duì)測(cè)試機(jī)平臺(tái)load board上的IC進(jìn)行溫度循環(huán) / 沖擊；傳統(tǒng)高低溫箱無(wú)法針對(duì)此類測(cè)試。
6、對(duì)整塊集成電路板提供精確且快速的環(huán)境溫度。

inTEST 高低溫測(cè)試方法：提供兩種檢測(cè)模式 Air Mode 和 DUT Mode
通過(guò)熱流罩或測(cè)試腔將被測(cè) IC 與周邊環(huán)境隔離，然后對(duì) IC 循環(huán)噴射冷熱氣流，使IC 溫度短時(shí)間發(fā)生急劇變化，從而完成溫度循環(huán)和溫度沖擊的測(cè)試。

inTEST 高低溫沖擊測(cè)試機(jī) ATS-545-M 尺寸

寬61x深72.4 x高 108 cm
重量 365 kg
手臂延展最大 160 cm
標(biāo)準(zhǔn)最高操作高度 130.3 cm;(可選188 cm)
標(biāo)準(zhǔn)最低操作高度 69.1 cm;(可選81.3 cm)
噪音 < 65 dBA