1、電容內(nèi)部的結(jié)瘤缺點(diǎn)。結(jié)瘤缺點(diǎn)是陶瓷電容制造過程中，金屬化電極材料涂敷不均勻?qū)е碌慕饘倩姌O堆積變形所形成的。由于金屬化電極的變形會導(dǎo)致瓷介介質(zhì)變形，從而使電容器的介質(zhì)變薄而使擊穿電壓下降，同時金屬化電極的變形也可導(dǎo)致電容在加電時電場不均勻而擊穿失效。

2、陶瓷電容器內(nèi)部的介質(zhì)空洞缺點(diǎn)。介質(zhì)空洞是陶瓷電容器內(nèi)部常見的缺點(diǎn)，它是電容器在制造過程中瓷介質(zhì)的空洞所造成的。它對陶瓷電容器的主要影響是導(dǎo)致電容器局部擊穿電壓降低，從而導(dǎo)致?lián)舸┦Щ騼蓚€電極之間的絕緣電阻降低、而且在電壓較高時會使空洞處的空氣電離化而產(chǎn)生漏電通道而漏電失效。